JTAG是聯合測試工作組的簡稱，是在名為標準測試訪問埠和邊界掃描結構的IEEE的標準1149.1的常用名稱。此標準用於測試訪問埠，使用邊界掃描的方法來測試印刷電路板。
1990年JTAG正式由IEEE的1149.1-1990號文檔標準化，在1994年，加入了補充文檔對邊界掃描描述語言（BSDL）進行了說明。從那時開始，這個標準被全球的電子企業廣泛採用。邊界掃描幾乎成為了JTAG的同義詞。
在設計印刷電路版時, 目前最主要用在測試積體電路的副區塊，而且也提供一個在嵌入式系統很有用的除錯機制，提供一個在系統中方便的"後門"。當使用一些除錯工具像電路內模擬器用JTAG當做訊號傳輸的機制，使得程式設計師可以經由JTAG去讀取整合在CPU上的除錯模組。除錯模組可以讓程式設計師除錯嵌入式系統中的軟體 。
參考資料
